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高溫老化房控制精度、解析精度及偏差
更新時間:2015-12-08   點擊次數:1302次

                   高溫老化房控制精度、解析精度及偏差

高溫老化房是針對高性能電子產品仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備,是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程,該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工等領域.
高溫老化房工作尺寸   可根據客戶要求尺寸及溫度控制范圍訂制,滿足客戶的要求。 
溫度范圍   RT(常溫)~55℃、65℃、75℃、85℃、可選擇 
解析精度   0.1℃或0.01℃ 
控制精度   ±1℃ 
溫度偏差   ±2℃ 
波動度     ±1.5℃ 
升溫時間   平均1~3℃/min。
降溫時間   30min~180min 

如有更多關于高溫老化房的技術知識請我司部,將為您詳細解析。

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